X射线照相检测技术

一、照相法的灵敏度和透度计
（一）灵敏度
显示缺陷的程度或能发现最小缺陷的能力。
1、绝对灵敏度
在射线底片上能发现被检试件中与射线平行方向的最小缺陷尺寸。
与厚度关系：越薄越小，越后越大
2、相对灵敏度
在射线底片上能发现被检工件中与射线平行方向的最小缺陷尺寸占缺陷处试件厚度的百分数。用“k”表示。
K=（x/d）×100%
X---平行射线方向的最小缺陷尺寸
d---缺陷处工件厚度