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X射线照相检测技术
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  • 授权方式:资料共享
  • 发布时间:2012-02-16
  • 资料类型:RAR
  • 资料大小:376 KB
  • 资料分类:电气工程
  • 运行环境:WinXp,Win2003,WinVista,Win ;
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X射线照相检测技术
一、照相法的灵敏度和透度计
(一)灵敏度
显示缺陷的程度或能发现最小缺陷的能力。
1、绝对灵敏度
在射线底片上能发现被检试件中与射线平行方向的最小缺陷尺寸。
与厚度关系:越薄越小,越后越大
2、相对灵敏度
在射线底片上能发现被检工件中与射线平行方向的最小缺陷尺寸占缺陷处试件厚度的百分数。用“k”表示。
K=(x/d)×100%
X---平行射线方向的最小缺陷尺寸
d---缺陷处工件厚度