本部分规定的规程能够应用在提供电子信号显示单或者图像自动分析系统的所有射线透视系统上。通过对被认可的测量样本的响应来对该射线透视系统进行分析。测量工作宜在装备完善的实验室里进行。可以从测量结果中得到成像系统的成像性能。本部分不包括动态下的成像性能。